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标题: AD采样例程 [打印本页]

作者: shayingzhe    时间: 2020-12-25 10:20
标题: AD采样例程
工程师好,请问一下在那个EMIF_AD7606例程中,根据讲解,是GP5[11]收到AD芯片的busy口发出转换完成的低电平信号后,然后去给转换完成标志位置0,这样在主循环中就能检测到标志位被置为0.然后开始采集数据。 但是在那个EMIF_AD7606v2例程中,而是用了一个定时器中断,每隔一段时间去执行服务函数读取EMIF口的数据,同时这个v2例程中没有用到判断AD芯片的busy口是否输出低电平,不用检测busy口的话是不是就不知道是否转换完成呢,如果定时器频率较高,ad芯片没有转换完成然后就去读取数据的话不就会读取到重复的数据;如果定时器频率较低,如果已经转换完才去读取数据的话不是又错过了一些数据,这个地方不是很理解。(图1为EMIF_AD7606例程根据检测busy口的低电平决定读取数据//图2为EMIF_AD7606v2例程根据定时器中断设置的周期读取数据)[attach]6707[/attach][attach]6708[/attach]
还有一个问题就是,EMIF_AD7606例程中每次都是根据AD芯片的busy口发出转换完成的低电平信号后触发中断执行读取数据的函数,那这样采样率不就是完全固定的了吗,完全根据AD芯片的busy口的低电平信号的频率决定,这种情况如何修改采样率呢?谢谢工程师。





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